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光譜共焦傳感器兩種測量模式介紹

　　光譜共焦傳感器外部掃描有一個重要的特性，實(shí)際上它是一個點(diǎn)傳感器，換句話說，在給定時(shí)刻傳感器測量的是一個位于其光軸上的單點(diǎn)。為了得到一個曲線，或者測量整個表面，必須用一些外部掃描設(shè)備做輔助，沿著一個軸或者兩個軸掃面樣品。一般情況掃描設(shè)備是機(jī)動的；在一些情況下它還包含編碼器來確定任意時(shí)刻樣品的位置。在一些應(yīng)用中傳感器和外部掃描設(shè)備的同步性是一個重要的問題。CCS-100可能同時(shí)作為“從”和“主”。

　　光譜共焦傳感器同步傳感器通常需要同步傳感器與一個外加設(shè)備，比如一個編碼器，運(yùn)動控制器或者一個能表明在傳送帶上運(yùn)動物體路徑的光電管。當(dāng)與傳感器同步的外部設(shè)備是一個數(shù)字編碼時(shí)，這個任務(wù)就很簡單，因?yàn)樗怯蒀CS-100自動進(jìn)行同步的。

　　厚度模式是一個附加的測量模式，專門用來測量透明樣品的厚度。這種模式下傳感器同時(shí)測量透明樣品兩面的位置，然后通過兩個位置的不同計(jì)算出厚度。測量厚度比測量位移更難，度也下降。厚底測量也受一些限制。為了獲得在該模式下的計(jì)量性能，應(yīng)該執(zhí)行一個特殊的叫做“厚度校準(zhǔn)”的程序。厚度校準(zhǔn)是用戶來執(zhí)行的。這個過程需要一個厚度標(biāo)準(zhǔn)。
　　測量數(shù)據(jù)
　　在樣品的每一個點(diǎn)傳感器都要同時(shí)測量幾個數(shù)據(jù)。 在位移測量模式下測量數(shù)據(jù)有：
　　√被測樣品點(diǎn)的距離
　　√反回的散射光束的光強(qiáng)
　　在厚度模式下測量數(shù)據(jù)有：
　　√樣品個面的距離和光強(qiáng)
　　√樣品第二面的距離和光強(qiáng)
　　√厚度

　　光譜共焦傳感器位移模式是專門用來測試樣品表面點(diǎn)的高度的。位移數(shù)據(jù)使用30比特的數(shù)字分辨率傳輸?shù)?。?dāng)測量一個不透明樣品（金屬，紙，陶瓷……）剖面高度時(shí)，使用位移模式就很直觀簡單。
　　當(dāng)測量薄的透明樣品或者有涂層樣品時(shí)，就會發(fā)生傳感器同時(shí)得到兩個信號的情況：涂層表面反射一個信號，底層反射第二個信號。傳感器默認(rèn)選擇強(qiáng)的信號并且忽略其它收到的信號，不管其譜峰的相對位置。在一些應(yīng)用中這種處理不是佳：在上面的例子中，底層材料的反射率一般比涂層的反射率強(qiáng)，而我們可能需要測量的是涂層表面。主題會給出峰模式的在這種應(yīng)用中的解決方法。